発明の名称 | 帯状構造検出装置及び方法並びにプログラム |
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技術分野 | IT, ものづくり |
出願日 | 平成23年12月22日 |
出願番号 | 特願2011-282187 |
公開番号 | 特開2013-131174 |
登録番号 | 特許第5812284号 |
出願人 | 国立大学法人電気通信大学 |
発明者 |
末廣 尚士
林 直宏 工藤 俊亮,冨沢 哲雄 |
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概要 | 【特許請求の範囲】 【請求項1】 入力画像から所定の幅の帯状構造を検出する装置であって、 前記入力画像の複数の探索位置において、前記探索位置を中心とし、前記所定の幅以下の直径を有する内円の周上または前記内円の内部にある複数の第1の判別位置、および、前記探索位置を中心とし、前記所定の幅より大きい直径を有する外円の周上、または、前記外円と前記内円の円周間の領域にある複数の第2の判別位置における画像特徴が前記帯状構造の画像特徴と同じもしくは類似するかを判別し、 前記第1の判別位置の画像特徴が前記帯状構造の画像特徴と同じもしくは類似すると判別され、かつ、前記第2の判別位置のうち前記帯状構造の画像特徴と同じでも類似でもない位置からなる連続領域が、前記内円を挟んで対向するように存在する場合、前記探索位置を帯状構造候補点として検出する帯状構造候補検出手段と、 前記帯状構造候補点群に対して線をフィッティングすることによって前記帯状構造を検出する帯状構造検出手段と、 を備えたことを特徴とする帯状構造検出装置。 【請求項2】 前記内円の直径が前記所定の幅と同じであることを特徴とする請求項1記載の帯状構造検出装置。 【請求項3】 前記入力画像はカメラで撮像された画像であり、 前記入力画像を俯瞰位置から見た画像となる俯瞰画像に変換する俯瞰処理手段をさらに備えたことを特徴とする請求項1または2記載の帯状構造検出装置。 【請求項4】 前記第1および第2の判別位置は、各々、前記内円および外円の円周上の8箇所に等間隔配置されたものであることを特徴とする請求項1から3のいずれか1項に記載の帯状構造検出装置。 【請求項5】 入力画像から所定の幅の帯状構造を検出する方法であって、前記方法は、 前記入力画像の複数の探索位置において、前記探索位置を中心とし、前記所定の幅以下の直径を有する内円の周上または前記内円の内部にある複数の第1の判別位置、および、前記探索位置を中心とし、前記所定の幅より大きい直径を有する外円の周上、または、前記外円と前記内円の円周間の領域にある複数の第2の判別位置における画像特徴が前記帯状構造の画像特徴と同じもしくは類似するかを判別するステップと、 前記第1の判別位置の画像特徴が前記帯状構造の画像特徴と同じもしくは類似すると判別され、かつ、前記第2の判別位置のうち前記帯状構造の画像特徴と同じでも類似でもない位置からなる連続領域が、前記内円を挟んで対向するように存在する場合、前記探索位置を帯状構造候補点として検出するステップと、 前記帯状構造候補点群に対して線をフィッティングすることによって前記帯状構造を検出するステップと、 を含むことを特徴とする帯状構造検出方法。 【請求項6】 コンピュータに、入力画像から所定の幅の帯状構造を検出させるプログラムであって、前記プログラムは、 前記入力画像の複数の探索位置において、前記探索位置を中心とし、前記所定の幅以下の直径を有する内円の周上または前記内円の内部にある複数の第1の判別位置、および、前記探索位置を中心とし、前記所定の幅より大きい直径を有する外円の周上、または、前記外円と前記内円の円周間の領域にある複数の第2の判別位置における画像特徴が前記帯状構造の画像特徴と同じもしくは類似するかを判別するステップと、 前記第1の判別位置の画像特徴が前記帯状構造の画像特徴と同じもしくは類似すると判別され、かつ、前記第2の判別位置のうち前記帯状構造の画像特徴と同じでも類似でもない位置からなる連続領域が、前記内円を挟んで対向するように存在する場合、前記探索位置を帯状構造候補点として検出するステップと、 前記帯状構造候補点群に対して線をフィッティングすることによって前記帯状構造を検出するステップと、 を前記コンピュータに実行させるものであることを特徴とする帯状構造検出プログラム。 |
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